FJ-*研究级金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的,作为**金相显微镜用户在使用时能够体验其**性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸/金属/陶瓷、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明式,在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好。符合人机工程学要求的设计,使您在工作中感到舒适和放松。
特点说明
1. 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。2. 拓展了物镜的复用技术,无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法,DIC并在 每一观察法中均提供高清晰的图像质量。 3. 采用非球面Kohler照明,增加观察亮度。 4. WF10×(Φ25)超大视野目镜,长工作距离明暗场金相物 |