晶片电阻又称厚膜电阻或金属膜电阻,在大陆又将它称之为片式电阻,各种称呼都是根据它的膜层厚度,形状及膜层材料而来的. 按电阻器分类来说,有薄膜电阻器厚膜电阻器.厚膜一词,虽来自膜的厚度,但厚膜,薄膜的概念并非单指膜的厚度,而主要还是指它们所代表的不同工艺特征,晶片电阻是用丝网印刷将导体桨料和电阻桨料,通过掩模在绝缘板上,制成所需要的图形,再经过加热(烧结或固化)而制出的厚膜电阻器,它区别于薄膜的蒸发和溅射等制造技术. 电性量测 1.测试目的:保证实验室R值量测的精准性,满足制程和实验室的分析使用. 2.测试方法:测试夹具夹在电阻电极两端. 3..测试条件:25 ℃恒温. 4.判断标准:依承认规格. 温度系数量测 1.测试目的:验证电阻值随温度升高或降低的变化率. 2.测试方法:在不同的温度条件下量测电阻值计算变化率. 3.测试条件:25℃→-55℃→25℃→125℃→25 ℃ 每个温度需要半小时时间,整个过程约2.5小时. 4.计算公式:TCR(ppm/℃)=[(R-R0)/R0)]*[1/(T-T0)]*10(6次方) |