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X-RAY无损检测成像系统-平板探测器 安竹光
高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，
2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。
技术参数
规格
探测器类别
非晶硅
闪烁体
CsI GOS
图像尺寸(mm)
160×130
像素矩阵
1274×1024
像素间距(um)
125
A/D转换(bits)
16
灵敏度(LSB/nGy, RQA5)
1.4
线性剂量(uGy, RQA5).
40
调制传递函数@ 0.5 LP/mm
0.60
调制传递函数@ 1.0 LP/mm
0.36
调制传递函数@ 2.0 LP/mm
0.16
调制传递函数@ 3.0 LP/mm
0.08
残影(%, 300uGy, 60s)
<0.5
量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)
0.73
量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)
0.55
量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)
0.45
量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)
0.29
空间分辨率(LP/mm)
4.0
帧速率(fps)
15.
X-射线工作范围(kV)
40/-/150
传输方式
千兆网线
功率(W)
12
电源(V)
DC24
交流电源频率(Hz)
50/-/60
适配器输出电压(V)
24 DC
探测器尺寸(mm)
170×195×16mm
探测器重量(kg,不含线缆)
1.0±0.1
探测器外壳材料
碳板,铝合金
存储温度(oC)
-20/-/55
工作温度(oC)
5/-/35
存储和运输湿度(%RH)
10/-/75
工作湿度(%RH)
10/-/75 |
