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微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片检测
X-RAY微焦检测系统
XDR-1600W X射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。
该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统，能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。
技术参数：
出厂：
ANZHU
型号：
XDR-AZ1600W；
数字成像视场:
160x130mm（不同面积可订制)
像素间距
49um（高分辨率成像系统）
A/D转换；
16/bits
几何放大倍数；
高达1000；
放大倍率；
高达2000；微焦配置；
微焦光管；
进口光管5-15um；
管电压；
40-120 kV；
管电流
0.2-1.0ma；
操作台上下间距：
200-600mm
机械操作台
左、右、前、后、上、下；
机械操作台软件
软件数控调节模似；
检测区
160x130mm(尺寸可选)
操作台承重量
10kg
操作辅助
自动/手动
图像处理软件
X射线检测图像软件，图像增、测量；
设备尺寸（长x宽x高）
1360mmx800mmx700mm
电脑系统:
windows10；联想21/25吋
仪器重量:
380kg
适配器输出电压
DC24V
交流电源频率:
50-60hz；
远程控制:
远程操作软件 |
