TEM显微镜分析,显微镜分析,TEM电子显微镜分析,宜特检测
透射电子显微镜(TEM)
性能特强的材料分析、可达0.1奈米影像分辨率设备的TEM,将可针对材料之显微结构、晶体缺点、化学成分进行分析;搭配上EDS、HAADF(ZC)、应力分析等功能,更能得到原子尺度结构与成份信息,解决制程上各种难题。
iST宜特TEM分析四大优势
一、**市场的分析能力:已达5奈米制程节点; 二、快速交期:三班制24小时运作; 三、FEI、JEOL等特高阶设备,供您选择(参见下表); 四、样品制备能量:八台业界特高阶FEI Helios 660 Dual-beam FIB设备,搭配解除试片损伤层(离子束能量可低至100 eV)的技术,将协助您取得特高质量TEM影像。 TEM应用范围:
显微结构分析(晶格影像) 结晶缺点分析 元素成分分析 薄膜应力分析 电子绕射图分析 杂质及污染源分析 机台型号/规格
关于宜特:
iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
免费咨询电话:8009880501
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