ENJ2005-C晶体图示仪是一款很具有代表性的新型半导体晶体图示系统,IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用 ATE 系统逐点建立,保证了数据的准确可靠性。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,通过USB或者RS232与电脑连接,通过友好的人机界面操作,即可完成测试。并实现结果以EXCEL和WORD的格式保存。提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测 试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。西安易恩电气科技有限公司主营的晶体图示仪,晶体图示测试系统,欢迎需要咨询或订购的用户,与我们联系,期待与您的精诚合作!yx |