染色处理,定点研磨,非定点TEM样品制备,宜特检测
芯片去层(Delayer)
工作原理:交互使用各种不同处理方式(离子蚀刻 / 化学药液蚀刻 / 机械研磨),将芯片本身之多层结构(Passivation, Metal, IDL)一一去除,可逐层观察检视有无异常点或拍照。
应用:
故障分析:透过IC层次去除的方式,确认各层中有无缺点。电路逆向工程:透过IC层次去除,搭配拍照设备,清楚解析出各层电路结构。
关于宜特:
iST宜特始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
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