测厚规 TECLOCK日本得乐测厚规SM112
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SM-112技术参数:
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚 规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm
体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g |