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TO封装集成电路老化测试插座
TO-4、6、8、10、12 主要技术指标； 环境温度；-55℃—155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次

LJZ型双列集成电路老化测试插座
LJZ-8J、14、16、18、24、28、40 主要技术指标； 间距；2.54mm 环境温度；-55℃—155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金

IC集成电路老化测试座
IC-4M-68J-1.27 主要技术指标； 间距；1.27mm 环境温度；-55℃—155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 封装形式CPGA

晶体管老化测试座
晶体管老化测试座 TO-92、94、39、220、TO-3、TO-3P F0、F1、F2、F4、TO-3P TO-2 主要技术指标； 环境温度；-20℃—155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次

陶瓷插座
产品型号及规格； 1、晶体管插座 二极管老化测试插座TO-2 小功率晶体管插座CSX-3脚 、CSX-4脚 中功率晶体管插座CSZ-3 CSZ-4 TO-220 CY-4 大功率晶体管插座FO F1 F2 TO-3P 2、集成电路插座金属壳封装TO-4、6、8、10、12 3、双列集成电路插座LJZ-8、18