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图1 :电容老化特性
注：介电損耗因子（正切）也会老化，下降速率是电容値的几倍。同时，EIA Class III和IV也具有老化特性。业界的老化定义可参照EIA-521和IEC-384-9中关于老化的“官方”定义。
Q2. Class I电容器和Class II电容器之间有什么不同？
A2. 温度补偿用电容（EIA I类）和高介电常数电容（EIA II类）电容的差异。温度补偿相对介电常数为10〜100，高介电常数的类型是使用具有1000至10000的相对介电常数的材料，材料系是不同的。
Class I 电容器1 (C0G、CH)的温度特性是稳定的，它基本不随温度，电压的变化，时间的推移而发生变化，CH和C0G电容的温度依赖性小，它的容值变化率是±30PPM/℃。因此，它是适用于要求温度和电压稳定的电路应用。联系欧阳：15217057671 0755-2 9120592 QQ：2355274968 可获得免费寄样服务，随时欢迎您的来 电
Class II 电容器2 (X5R，X7R、Y5V)的特性对于温度、电圧、时间的变化是比较大的，与Ⅰ类相比，电容的温度变化较大但它可以获得高容值的电容，用于整流、傍路等用途。
此外，采用钛酸钡为介质主材制造的电容器（Class II、III和IV）为强电介质体，因此容易“老化”，在未加热或充未电状态下放置,随着时间的推移电容器的容値会下降。Class I电容器不是强电介质体，因此不会老化。联系欧阳：15217057671 0755-2 9120592 QQ：2355274968 可获得免费寄样服务，随时欢迎您的来 电
Q3. 为什么钛酸钡电容器会老化以及如何老化？联 系欧阳免 费索样
在居里点以下温度，无负载放置。随着时间的推移内部分子结构会变化，并由此产生电偶极子的有序排列。造成分子的电荷保持力减弱的结构。电容值将变小3。 |
