在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。
MIDEX X射线荧光谱仪是为满足这些要求研制开发的。根据市场要求,公司对仪器进行了扩展而优化,使MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
MIDEX X射线荧光谱仪是**推出的第三代专利产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。
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