硬件独特性:双屏显示设计,造型时尚专业,带多节点预启动装置和实时监控系统;已集成计算机,无需再外接电脑,计算机采用触屏设计,操作流畅便捷;加装自动防辐射泄漏装置,主动性的保证使用人员安全;内置打印机,计算报告方便快捷;独具短信报错功能,操作是否符合规范一目了然;超高的分辨率可轻松解决贵金属行业无损分析的任何复杂要求,为贵金属行业性价比**的**光谱仪。
软件优越性:XRF8.0菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算系统;软件除能显示金属百分比纯度外,亦可显示黄金K值;软件可自动重复检测,自动测算多次检测的均值;独具全局故障判断功能;计算报告的打印格式多样化,完全满足客户各种形式的打印要求。
厂家:深圳市西凡谨顿科技有限公司
大客户经理:何S
联系方式:13723786937/13925245670
邮箱:1969301778@qq.com
传真:0755-27381775/27808750
地址:深圳市宝安区创业二路华丰商贸城五楼
网址:www.cfantek.com
激发源:Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)
探测器:Si-PIN 探测器 (美国进口) 145Kev ± 5
高压装置:0—50KV
其它规格:
电压:交流220V/50Hz
**功率:144W
**处尺寸:650mm*450mm*340mm
重量:32kg
技术指标:
分析范围:0.001% ~ 99.999%
测量时间:自适应
测量精度:± 10ppm ~ 0.1%
分辨率 :145Kev ± 5
测试环境:常温常态
分析元素:除贵金属常含元素和铱、锇等铂族重金属能**测试外,该型号还能对从Na至U的70多种元素进行分析,实为贵金属行业常量分析中的实验室级光谱仪。
X射线源:X射线光管
高压器:0~50Kv
操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量:
镀层厚度范围<30μm
**测量层数:5层
测量精度:0.03μm |