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KCQ200-NE41电源板卡渠道商介绍,为提高开关电源的功率密度,电源工程师首先想到的办法是选择开关频率更高的MOSFET,通过提高开关速度可以显著地减小输出滤波器体积,从而在单位体积内可实现更高的功率等级。但是随着开关频率的提高,会带来EMI特性的恶化,必须采取**的措施改善电路的EMI特性开关电源的功率MOSFET安装在印制电路板上,由于印制电路板上MOSFET走线和环路存在杂散电容和寄生电感,开关频率越高,这些杂散电容和寄生电感更加不能够忽略。由于MOSFET上的电压和电流在开关时会快速变化,快速变化的电压和电流与这些杂散电容和寄生电感相互作用,会导致电压和电流出现尖峰,使输出噪声明显增加,影响系统EMI特性。
由1-1和1-2式可知,寄生电感和di/dt形成电压尖峰,寄生电容和dv/dt形成电流尖峰。这些快速变化的电流和关联的谐波在其他地方产生耦合的噪声电压,因此影响到开关电源EMI特性。下面以反激式开关拓扑为例,对降低MOSFET的dv/dt和di/dt措施进行介绍。
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降低MOSFET的dv/dt
我们关注的是MOSFET特性以及影响这些特性的寄生效应:
1-3中,Rg和Cgd越大,dv/dt越低。1-4中,Coss越低,dv/dt越高。在MOSFET选型中,MOSFET的Coss、Ciss、Crss参数特性,影响开关尖峰大小。
从上述分析中可知,我们可以通过提高MOSFET寄生电容Cgd、Cgs、Cds和增大驱动电阻值Rg来降低dv/dt。
可以采取以下**措施:
较高的Cds可以降低dv/dt并降低Vds过冲;但是较高的Cds会影响转换器的效率。可以使用具有较低击穿电压和低导通电阻的MOSFET(这类MOSFET的Cds也较小)。但是如果考虑噪声辐射,则需要使用较大的谐振电容(Cds)。因此提高Cds则需要权衡EMI和效率两者的关系;较高的Cgd实质上增加了MOSFET在米勒平台的持续时间,可以降低dv/dt。但这会导致增加开关损耗,从而降低MOSFET效率并且会提高其温升。提高Cgd,需要驱动电流也会大幅增加,驱动器可能会因瞬间电流过大而烧毁;建议不要轻易添加Cgd;在栅极处添加外部Cgs电容,但很少使用此方法,因为增加栅极电阻Rg相对更简单。效果是相同的。
资讯来源:汕头罗克自动化
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