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4022 268 00433 X-RAY渠道商下面介绍X-RAY荧光测厚法原理:
X-RAY是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射,可分为连续X-RAY和特征X-RAY两种,常用波段为0.1-20埃(A0)。
X-RAY分析法按照产生的机理可以划分为X-RAY荧光法(X-RAY fluorescence analysis)和X-RAY吸收光谱法(X-RAY absorption spectroscopy)和X-RAY衍射分析法(X-RAY diffraction analysis)等。在PCB行业,关于金属层厚度普通采用X-RAY荧光法(X-RAYfluorescence analysis)。
X-RAY荧光测厚法原理是应用X-RAY射击到待丈量的物体表面上,而反射出荧光,应用皮膜反射的荧光与基材反射荧光的不同性质,与基材反射回来的荧光量的几,得以计算出皮膜厚度。
当一种物料遭到X-RAY的撞击(Bombardment)时,原子中的某些电子在获得足够的能量而脱离(Spin Off)各原子正常轨道的限制后,在原来脱离的价层(Shell)中便产生一个“空泛”(Void)。当另外有其他的电子从高价层中落下来填补该空泛的时分,其多余的能量便以X-RAY能量的光子释放出来,此X-RAY又在射击到其他物质上,并再度产生第二次的X-RAY荧光(X-RAY fluorescence),参见图2。各种荧光X-RAY的发射能阶(LimittedEnergy Lenel,也就是波长)与其再原子序(Atomic Number)成正比,而且和该物质的特性有关系,其谱线的数量(Quantity,也就是强度)是与该物质的厚度有关。经过这样的机理,可以对物质中止定性和定量分析。也就是假设能够采用恰当的仪器(Instrumentaition),经过计算机便可以很快应用X-RAY去丈量该材料的厚度。
资讯来源:汕头罗克自动化
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